各種高分子材料は多くの工業製品に使われているが、材料の劣化や密着性の解析などで深さ方向の化学構造解析を行わなければならない場合が多い。これまで弊社で検討してきた、赤外分光を利用した精密斜め切削法やスペクトルシミュレーションは上記材料解析に有効で多くの知見が得られることを紹介する。また、赤外周波数より低いTHz領域の分光は未踏周波数帯として材料への応用が期待されている。本分光法による高分子材料への適用について議論し、分子間の相互作用解析の可能性について紹介する。
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