原子間力顕微鏡（AFM）は、走査型トンネル顕微鏡（STM）とは根本的に異なった物理量を検出し、それを原子レベルで画像化できる表面の研究手法の一つであり、最近、様々な機能があることがわかってきた。本セミナーでは、特に、探針先端が試料表面に接触することなく微弱な引力を高感度に検出できる非接触原子間力顕微鏡に関する最近の研究成果を紹介する。具体的には、非接触原子間力顕微鏡には、物質表面の化学的活性度や原子種を原子レベルで測定できる機能があることを紹介する。また、静電気力を測定することにより、物質表面の電荷分布やポテンシャル分布を原子レベルで測定できることを紹介する。さらに、探針による原子・分子の力学的操作についても述べる。
閉じる