低次元ナノ構造の電気伝導はナノテクノロジーにおける最大関心事の一つであると言っても過言でない。応用の観点からは新しいナノエレクトロニクスデバイスを設計・構築する上で不可欠な情報であり、基礎の観点からは物性論の根幹に関わる問題を孕んでいる。我々は低次元ナノ構造の電気伝導の測定のために、独立に駆動できる２、３、４本の探針をもつ多探針走査トンネル顕微鏡を開発し、それらを用いて１次元ナノワイヤーや２次元薄膜の電気伝導度を測定した。
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